氢气对大鼠脑缺血/再灌注损伤线粒体功能的影响机制
张鑫磊1
陈盼1
夏裕宁1
李雪梅2
戴春光3
谭永星3
1.桂林医学院研究生院 广西桂林5410012.桂林医学院附属医院 护理部 广西桂林5410013.桂林医学院附属医院 重症医学科 广西桂林541001
摘要：目的 研究氢气对大鼠脑缺血/再灌注(I/R)损伤脑皮质区线粒体功能的影响机制.方法 雄性SD大鼠48只,用线栓法建立大鼠局灶性脑I/R损伤模型.随机将大鼠分为假手术组(Sham组)、脑I/R组(MOD组)、氢气治疗组(H2组).再灌注24 h后进行神经功能缺损评分;检测神经细胞活性氧(ROS)生成率,线粒体膜电位(△ψm)水平,通透性转换孔(MPTP)开放度,线粒体肿胀度变化.结果 与Sham组相比,MOD组大鼠神经功能缺损评分、MPTP开放度、线粒体肿胀度及ROS生成率增加(P<0.01),△ψm水平降低(P<0.01);与MOD组比较,H2组大鼠神经功能缺损评分、MPTP开放度、线粒体肿胀度和ROS生成率降低(P<0.01),△ψm水平增加(P<0.01).结论 腹腔注射H2可保护脑I/R后缺血区线粒体的功能,改善大鼠脑I/R后的神经功能评分.
关键词：氢气脑缺血再灌注活性氧线粒体
资助基金：国家自然科学基金(81260206)广西自然科学基金(2013GXNSFAA019155)广西自然科学基金(2015GXNSFAA139130)广西卫生厅项目(Z2016390)
论文发表日期：2018-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 184-187 )
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