正则高阶微分系统带权第二特征值的上界
朱敏峰
钱椿林
1.苏州市职业大学基础部,江苏苏州,2151042.苏州市职业大学基础部,江苏苏州,215104
摘要：考虑正则高阶微分系统带权第二特征值的上界估计．利用试验函数、Rayleigh定理、分部积分和Schwarz不等式等估计方法与技巧，获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式，其估计系数与区间的度量无关．其结果在物理学和力学中有着广泛的应用，在常微分方程的研究中起着重要的作用．
关键词：正则高阶微分系统特征值特征向量上界
分类号：O175.1(数学分析)
资助基金：苏州市职业大学青年基金资助项目(2010SZDQ12)
论文发表日期：2012-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：7( 30-36 )
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