背根神经节电穿孔转染神经元技术的改进
齐士斌1
马艳霞2
张浩楠1
马进进1
徐金辉1
赛吉拉夫3
1.苏州大学附属第一医院骨科,江苏省苏州市,2150062.苏州大学骨科研究所,江苏省苏州市,2150073.苏州大学附属第一医院骨科,江苏省苏州市 215006;苏州大学骨科研究所,江苏省苏州市 215007
摘要：背景:背根神经节电穿孔技术是一种研究神经再生的高效基因转染方法,以往背根神经节电穿孔的电压条件使得标记的神经元及轴突数目较少,统计误差较高.目的:提高神经元及其轴突的标记率,为周围神经再生的研究提供理论依据.方法:以增强型绿色荧光蛋白为观察指标优化背根神经节电穿孔技术在神经元轴突再生方面的应用.将ICR小鼠随机分为2组,分别行背根神经节电穿孔手术,检测在35 V和60 V电压干预下神经元及其轴突的标记率.结果与结论:①35 V和60 V电压未造成神经元明显死亡;②与35 V电压相比,60 V电压条件下标记的神经元及其轴突数量显著增加,且通过损伤部位的轴突数量明显增多(P<0.05);③60 V电压对实验动物未造成行为功能损害;④结果表明,60 V电压能够使神经元及其轴突的标记率增高,其结果能够为周围神经元轴突再生研究提供依据.
关键词：背根神经节轴突电穿孔电压周围神经标记率
分类号：R459.9(治疗学)R741.05(神经病学)R-332(实验医学、医学实验)
资助基金：国家自然科学基金(81772353)国家自然科学基金(81571189)
论文发表日期：2020-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：6( 3042-3047 )
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