绝缘层厚度与芯线直径测量偏离方法的比对和探讨
傅金波1
王粤威2
胡永乐2
李坤林2
1.西藏出入境检验检疫局,西藏,拉萨,8500022.珠海出入境检验检疫局,广东,珠海,519000
摘要：本文探讨了GB/T2951.1-1997中绝缘层厚度与芯线直径测量装置的选择问题.通过西藏出入境检验检疫局与珠海出入境检验检疫局进行比对实验,证明只要用满足标准规定精度的测量仪器去测量,就能达到要求,并不一定要用读数显微镜,标准中方法是可以偏离的.
关键词：绝缘层厚度芯线直径比对方法偏离
分类号：TH873.7(机械、仪表工业)
论文发表日期：2006-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：2( 14-15 )
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