上颌腭侧咀嚼黏膜厚度与腭穹窿形态的CBCT研究
薛绯1
张瑞2
1.北京 北京大学口腔医院门诊部牙周科,1000342.首都医科大学附属北京友谊医院口腔科,100050
摘要：目的：测量汉族人群上颌腭侧咀嚼黏膜厚度，并探讨其与腭穹窿形态间的关系。方法：采用CBCT测量22名受试者上颌尖牙至第二磨牙腭侧正中距离龈缘3、6、9、12 mm处黏膜厚度及腭穹窿宽高比。每名受试者测试42个位点。结果：上颌腭侧黏膜随着距离龈缘越远而逐渐增厚。在距离腭侧龈缘6、9、12 mm处，前磨牙区黏膜厚度明显高于第一磨牙（P＜0．05）。在距第二磨牙龈缘9 mm处，高腭穹窿组黏膜厚度低于低腭穹窿组（P＜0．05）。结论：腭侧软组织瓣的供区范围以前磨牙区为主。对于低腭穹窿者，采集移植瓣的宽度应适当缩窄，范围可适当向第一磨牙远中延伸；而对于高腭穹窿者，移植瓣的宽度可适当增加，范围可适当向尖牙近中延伸。
关键词：锥形束CT(CBCT)腭侧咀嚼黏膜腭穹窿形态
分类号：R780.41(口腔科学)
论文发表日期：2016-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 667-671 )
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