磁敏感加权成像技术在早产儿脑损伤诊断中的价值
赵晓君
周忠洁
张弦
刘锟
严志汉
1.温州医科大学附属第二医院放射科浙江温州 3250002.温州医科大学附属第二医院放射科浙江温州 3250003.温州医科大学附属第二医院放射科浙江温州 3250004.温州医科大学附属第二医院放射科浙江温州 3250005.温州医科大学附属第二医院放射科浙江温州 325000
摘要：目的：对比和探讨磁敏感加权成像技术（ SWI ）在早产儿脑损伤诊断中的价值。方法对50例临床拟诊的早产儿脑损伤患者（出生后1周内），行T1 WI、T2 WI、FLAIR、DWI轴位和SWI轴位扫描，评估记录不同序列上的低信号部位、数目和面积。结果50例早产儿中，T1 WI、T2 WI、FLAIR、DWI、SWI发现的病灶数量分别为108、82、123、135、204个， SWI较常规序列更敏感地显示出血灶，差异具有统计学意义。在相同部位显示病变大小范围以SWI最好（0．72±0．58），较T1 WI、T2 WI（0．50±0．48）清晰明显，差异具有统计学意义。结论 SWI较其它序列更容易发现微出血灶，SWI还能探测早产儿脑深部髓静脉管情况，具有其他检查方法不可比拟的优势。
关键词：早产儿微小出血灶磁共振成像
分类号：R722.15(新生儿、早产儿疾病)R445.2(诊断学)
资助基金：浙江省温州市科技局社会发展科学研究项目(Y20130230)
论文发表日期：2016-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：3( 2186-2188 )
英文信息