斜投影显微图像分析法测量片状颗粒厚度的研究
窦彦玲
任中京
江海鹰
1.济南大学,颗粒测试研究所,山东,济南,2500222.济南大学,颗粒测试研究所,山东,济南,2500223.济南大学,颗粒测试研究所,山东,济南,250022
摘要：与传统正投影显微图像分析方法不同,本文应用斜投影法,通过变换观测颗粒群的角度,依据获得的光学显微镜下颗粒群的信息,推导出了颗粒群厚度的计算公式,并讨论了厚度分辨能力与倾斜角、放大倍数之间的关系,同时应用实例证明了该方法的可行性.
关键词：斜投影显微图像分析三维重构体视学
分类号：TH74(仪器、仪表)
论文发表日期：2004-01-01
在线出版日期：2026-05-22（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 18-21 )
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