消光法粒度测量中折射率反演问题研究
徐峰1
蔡小舒2
苏明旭2
任宽芳3
1.上海理工大学,颗粒与两相流测量技术研究所IPTFM,上海,200093;法国国家科研中心空间热化学联合研究所CORIA,法国,鲁昂,768012.上海理工大学,颗粒与两相流测量技术研究所IPTFM,上海,2000933.法国国家科研中心空间热化学联合研究所CORIA,法国,鲁昂,76801
摘要：利用多波长消光法,在已知粒度分布前提下,采用遗传算法对折射率进行了反演.相比于传统的优化方法通常获得的局部最优解,该算法获得的折射率结果逼近全局最优解.反演采用的波长数目和颗粒单分散性的优劣影响解的可靠性.尽量多地获得透射谱信息以及增大颗粒系的分散性可以是测量结果更准确.由于亚微米和纳米级颗粒的消光系数-折射率曲线的单值性关系比微米级颗粒更为明显,导致其目标函数的多峰分布程度得以降低,使反演的抗噪能力增强,折射率更易于获得.
关键词：颗粒测量Mie散射折射率反演
分类号：TH744(仪器、仪表)
资助基金：上海市科委项目(0450nm029)法国驻华使馆资助项目(4B2-007)
论文发表日期：2005-01-01
在线出版日期：2026-05-22（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：3( 1-3 )
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