前向大角度法测量亚微米级颗粒
摘要：采用Mie散射理论,分析了亚微米级颗粒散射光角度分布特征,研究了粒径、折射率等参数对散射光分布特点的影响.研究发现,将散射光强度的角度分布进行归一化后,前向30°部分范围内的分布特性近似为线性,且呈现斜率与颗粒粒径相关,而与折射率无关的特点.在此基础上,本文中提出一种新的测量方法--前向大角度法,即通过测量散射光在前向30°范围内的光强线性变化的斜率来直接得到亚微米级颗粒的平均粒径.文中讨论了该方法的适用范围、近似表达式、误差分析等.
关键词：前向大角度法颗粒测量亚微米
分类号：TB3(工程材料学)
论文发表日期：2005-11-09
在线出版日期：2026-05-22（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：9( 67-75 )
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