SiO2载纳米银抗菌粉体的制备及性能
陈晓丽
魏丽乔
1.太原理工大学新材料界面科学与工程教育部和山西省重点实验室,山西太原030024;太原理工大学材料科学与工程学院,山西太原0300242.太原理工大学新材料界面科学与工程教育部和山西省重点实验室,山西太原030024;太原理工大学材料科学与工程学院,山西太原030024
摘要：利用化学还原法制备SiO2载纳米银复合抗菌粉体(Ag-SiO2),研究制备过程中Ag+浓度对Ag-SiO2抗菌粉体的性能及色泽的影响;采用扫描电镜、能谱分析、X射线光谱分析以及透射电镜对Ag-SiO2抗菌粉体的结构进行分析,并利用抑菌环法和最小抑菌浓度法测试其抗菌性能.结果表明,银粒子主要以纳米还原态存在,平均粒径为30 nm左右;Ag+浓度越大,抗菌性能越好,但是同时抗菌剂色泽越深;银的最小抑菌浓度(质量浓度)为94 mg/L.
关键词：化学还原法纳米粒子抗菌性能
分类号：TQ13(金属元素的无机化合物化学工业)
论文发表日期：2013-01-01
在线出版日期：2026-05-22（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 54-57 )
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