动态光散射法测量二氧化硅粒径的不确定度评定
张涛
王小飞
邹涛
1.北京市理化分析测试中心;北京市科学技术研究院 分析测试技术重点实验室,北京1000892.北京市理化分析测试中心;北京市科学技术研究院 分析测试技术重点实验室,北京1000893.北京市理化分析测试中心;北京市科学技术研究院 分析测试技术重点实验室,北京100089
摘要：为探讨动态光散射法粒径测量结果的不确定度来源及其对测量结果的影响程度,选取2种不同粒径的二氧化硅(标称粒径分别为20、80 nm)混合体系为研究对象,利用动态光散射法测量混合体系中颗粒的粒径,对其不确定度来源进行分析,依据不确定度评定方法对测量结果进行不确定度评定.结果表明:2种颗粒的粒径测量平均值分别为17.80、88.43 nm,测量结果可表示为(17.80±1.02)、(88.43±2.48)nm;衰减率、温度、散射角、黏度、重复性测量等均为测量结果的不确定度来源,其中重复性测量是主要来源.
关键词：动态光散射纳米二氧化硅粒径不确定度
分类号：O657.3(分析化学)
资助基金：北京市科学技术研究院萌芽计划项目(2013-04)
论文发表日期：2017-01-01
在线出版日期：2026-05-22（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 53-56 )
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