离散元法在绝缘子动态积污分析中的应用
王国志
孙海振
吴文海
柯坚
1.西南交通大学机械工程学院,四川成都,6100312.西南交通大学机械工程学院,四川成都,6100313.西南交通大学机械工程学院,四川成都,6100314.西南交通大学机械工程学院,四川成都,610031
摘要：为研究外界因素对绝缘子表面的动态积污的影响,以ZS-35KV/6-8瓷棒形支柱绝缘子为研究对象,利用DEM-CFD耦合方法模拟绝缘子表面动态积污过程,使用离散元法综合分析粒径、风速大小、来流角度对积污的影响.结果表明:一定时间内,绝缘子的表面积污率表面粘附的污秽颗粒数呈线性增长趋势;随着风速的增大,颗粒粘附速率先增大,然后逐渐减少,粘附速率最大时对应的风速为最适合积污风速,最适积污风速随粒径的增大近似呈对数分布;当来流角度为135°左右时,颗粒粘附速率最大;绝缘子上表面积污受曳力影响较大,下表面积污受重力沉降作用影响较大,上表面污秽颗粒平均粒径比下表面污秽颗粒平均粒径较小.
关键词：绝缘子动态积污DEM-CFD耦合方法颗粒粘附速率
分类号：TM852(高电压技术)
论文发表日期：2017-01-01
在线出版日期：2026-05-22（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 11-15 )
英文信息