弥散张量成像对皮质下失语症发病机制的研究
姚婧璠1
陈红燕2
张玉梅1
1.首都医科大学附属北京天坛医院神经病学中心,国家神经系统疾病临床医学研究中心,北京脑重大疾病研究院脑卒中研究所,脑血管病转化医学北京市重点实验室,北京市 1000502.首都医科大学附属北京天坛医院影像科,北京市,100050
摘要：目的 应用弥散张量成像(DTI)和纤维束示踪技术(DT-FT),探讨正常人语言功能区纤维连接特点以及皮质下失语症可能的发病机制.方法 2016年6月至2017年5月,选择正常被试20例和经MRI证实病变位于皮质下结构并表现为失语的脑卒中患者3例,根据西部失语成套测验评定标准,运动性失语2例,传导性失语1例.采用DTI及DT-FT观察语言功能区、对侧镜像区的各向异性(FA)以及纤维束的数量、走形等.结果 正常被试语言功能区神经纤维走行十分复杂,与其他部位皮质和皮质下结构发生广泛联系,个体间差异不大.3例失语症患者中,语言功能区或弓状纤维束FA较对侧镜像区降低,纤维束破坏、数量减少、变形或移位.结论 语言功能相关结构十分复杂,除皮质外,多种白质纤维束、皮质下结构也参与其中.语言功能区纤维受损、变形或移位,可能是皮质下失语症的发病机制.
关键词：皮质下失语症弥散张量成像发病机制
分类号：R743.3(神经病学与精神病学)
资助基金：国家自然科学基金(No.81371201)首都医科大学基础与临床合作重点项目(No.16JL03)北京市医院管理局临床医学发展专项(扬帆计划)(No.ZYLX201836)
论文发表日期：2018-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：11( 869-879 )
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