TOF-SIMS用于有机混合物分析的数据处理方法
郝多虎
梁汉东
杨陆武
1.中国矿业大学资源开发工程系,北京,1000832.中国矿业大学资源开发工程系,北京,1000833.中国矿业大学资源开发工程系,北京,100083
摘要：在对二次离子质谱的谱图的进行研究的基础上,提出了利用计算机进行二次离子质谱分析的数据处理方法,并已实现了其中的大部分内容.利用该方法处理复杂有机物的质谱图,可以自动输出不同有机物系列的质谱图,且易于分析,不受无机物和仪器噪音的干扰,还可以提取一系列的定量参数,节省质谱解析的时间,从而更好地分析有机混合物的组成及结构特征.
关键词：飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)质谱数据解析有机物组成与结构
分类号：TQ531.4(煤化学及煤的加工利用)
资助基金：中国科学院项目（非规范项目）(49672131)
论文发表日期：1999-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 74-77 )
英文信息