事件相关电位评估重复性亚脑震荡后认知损害的研究进展
张浩然1
周阳2
王铄辰3
宋健3
1.430081 武汉,武汉科技大学医学院;430070 武汉,中国人民解放军中部战区总医院神经外科2.430070 武汉,中国人民解放军中部战区总医院神经外科;442000 湖北十堰,湖北医药学院3.430070 武汉,中国人民解放军中部战区总医院神经外科
摘要：重复性亚脑震荡是指头部受到反复的轻微撞击产生的脑损伤.虽然单次轻微撞击不足以引发明确的脑震荡症状,但是多次轻微撞击就会对大脑造成损伤.重复性亚脑震荡与长期神经功能改变和累积性脑损伤密切相关,可能增加神经退行性疾病的风险,从而导致认知功能的改变,使晚年的生活质量下降.事件相关电位技术可以客观地、准确地评估脑功能在重复性亚脑震荡暴露下的变化.本综述对近年来重复性亚脑震荡相关的事件相关电位研究进行回顾总结,为理解重复性亚脑震荡暴露损伤的神经机制提供参考.
关键词：重复性亚脑震荡认知损害事件相关电位
分类号：R651.1+5(外科学各论)
论文发表日期：2024-12-25
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 742-746 )
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