儿童神经精神性狼疮头颅正电子发射断层显像特征分析
马明圣1
崔瑞雪2
宋红梅1
魏珉1
何艳燕1
1.中国医学科学院北京协和医学院儿科,北京,1007302.中国医学科学院北京协和医学院核医学科,北京,100730
摘要：目的 分析儿童神经精神性狼疮(NPSLE)头颅正电子发射断层显像(PET/CT)的特点.方法 对2012年4月至2014年2月在北京协和医院儿科确诊为NPSLE,且在6个月内出现神经精神症状的患儿行头颅18氟-脱氧葡萄糖PET/CT检查,并对其神经精神症状、头颅PET/CT结果进行分析.结果 NPSLE患儿共19例,其中女13例、男6例,发病年龄7～ 14岁,中位年龄为11.3岁.神经精神症状表现依次为头痛(8/19)、惊厥发作(7/19)、认知功能障碍(2/19)、精神病(1/19)、运动失调(1/19).所有患儿均行头颅磁共振成像检查,仅4例异常.NPSLE患儿头颅18氟-脱氧葡萄糖PET/CT检查均有大脑皮质糖代谢减低,其中最容易受累区域是颞叶(17/19),其他受累区域依次为顶叶(16/19)、枕叶(14/19)、额叶(10/19).8例有基底节糖代谢相对增高,3例伴丘脑糖代谢相对增高.结论 NPSLE患儿PET/CT脑显像主要表现为大脑皮质糖代谢减低,伴或不伴局部糖代谢增高.
关键词：神经精神性狼疮正电子发射断层显像术系统性红斑狼疮
分类号：R72(儿科学)
论文发表日期：2018-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 51-54 )
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