光源性能测试方法及装置相关专利简介
陶梅
摘要： 1 一种温变环境下光源的光学性能参数的测试系统
公开(公告)号:CN101419119
摘要:本发明公开的温变环境下光源的光学性能参数测试系统,包括CPU处理模块、光功率计、光谱仪、光偏振度仪、显示模块、EVOA衰减器、分束器和电源模块、温度计接口、光学接口和光源驱动接口.
机标关键词：光源性能测试方法装置专利Light Sources性能参数测试系统驱动接口光学接口
论文发表日期：2010-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：2( 33-34 )
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