基于Talbot效应的LED器件测试技术研究
钱雯磊
王峰
李抒智
杨卫桥
马可军
1.上海半导体照明工程技术研究中心,上海,2012032.上海半导体照明工程技术研究中心,上海,2012033.上海半导体照明工程技术研究中心,上海,2012034.上海半导体照明工程技术研究中心,上海,2012035.上海半导体照明工程技术研究中心,上海,201203
摘要：研究了基于Talbot效应的脉冲宽度调制（PWM）驱动和普通恒流驱动造成的LED光通量、光效、色温等参数的差异。在实验室现有测试设备基础上提出了适用于PWM驱动形式的特殊测试方法，自制了测试工具，初步比较了两种驱动方式对于器件性能的影响，实验结果表明：PWM驱动的LED平均光通量测试方法有效解决了实验室现有设备只能测试恒定信号的限制。PWM驱动方式在控制色温上有优势，但会降低器件光效，实际应用时应加以注意。
关键词：Talbot效应PWM驱动(平均)光通量(平均)光效
分类号：TN873.91(无线电设备、电信设备)
论文发表日期：2012-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 35-39 )
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