LED2加速寿命和可靠性试验
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浙江省半导体照明测试系统工程技术研究中心杭州远方光电信息股份有限公司光电科学研究所,浙江杭州,310053
摘要：LED的寿命和可靠性得到了业界的高度重视，但其试验方法极具挑战。目前已有关于LED寿命试验的标准相继出台，然而不同区域的标准要求又有所不同。分析LED可靠性和寿命相关的关键指标，以北美体系和国际电工委员会（IEC）体系为主线，阐述LED加速寿命的试验方法，介绍具有我国自主知识产权的LED加速老化和寿命测试系统，其能够满足现有各种标准要求，实现方便、快速、精准的智能化试验。
关键词：LED标准加速老化试验测试系统
分类号：TN06(一般性问题)
论文发表日期：2012-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 31-34 )
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