单通道和多通道驱动器的加速应力测试(2)
严新
摘要：(续2018年第7期)
2试验样品
本文中讨论的受试设备(DUTs)所进行的老化试验,要么是通过室温工作寿命(RTOL)试验,要么是加速应力测试将试验时间缩至最短.所有的受试设备(DUTs)都是两级驱动器,样品包含单通道(3款产品)和多通道驱动器(3款产品),每种要测试的驱动器都是设计用于凹槽灯、路灯和其他相对大型的灯具.所有的被测驱动器都是独立式设备,通常都固定在灯具外壳上,通过外部线路与LED初级光源相连.
机标关键词：
论文发表日期：2018-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：6( 37-42 )
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