金属迁移致LED漏电失效实验研究
文波
林远彬
秦快
1.佛山市国星光电股份有限公司,广东佛山5280002.佛山市国星光电股份有限公司,广东佛山5280003.佛山市国星光电股份有限公司,广东佛山528000
摘要：通过实验还原了失效LED产品,利用Ⅰ-Ⅴ 曲线测试仪研究了失效LED产品的漏电规律,通过X-Ray探测仪和光学显微镜(OM)检测了失效LED产品内部形貌差异,采用扫描电子显微分析仪(SEM)和能量色谱X射线光谱仪(EDX)测试分析了失效LED产品的微观组织形貌以及组成成分,确定了LED产品失效原因.实验结果表明:在外加电压作用下,金属元素在PN结之间会发生迁移,造成LED漏电失效;PN结由于漏电发热,导致Au电极和芯片结合力变差,发生电极脱落和芯片烧伤现象.因此可对芯片表面进行纳米涂层设计,能有效地防止金属迁移.
关键词：LEDPN结金属迁移漏电失效
分类号：TQ15(电化学工业)
资助基金：佛山科大专项(FSUST19-FYTRI11)
论文发表日期：2020-12-25
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：6( 1-6 )
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