紫外发光二极管固化光源的可靠性研究
任荣斌1
汤乐明2
吴乾1
1.广州市鸿利秉一光电科技有限公司,广东广州 5108902.广东中科半导体微纳制造技术研究院,广东佛山 518103
摘要：紫外发光二极管(UV LED)固化光源相对于传统UV固化光源具有环保、低功耗和波段可选等优势.UV LED应用于印刷行业中通常会面临多方面的挑战,其中可靠性问题尤为突出.市面上采用有机材料封装的UV LED的可靠性很大程度上受限于有机材料,而基于CMH(Ceramic,Metal,Hard glass/quartz)封装技术的全无机UV LED 100％采用无机材料封装,具有气密性好、可靠性高、寿命长和热阻低等优点.本文从多个方面对UV LED器件和模组的可靠性进行了研究,研究发现:①全无机封装UV LED的可靠性明显优于有机材料封装的UV LED,且波段越低优势越明显;②基板绝缘层的热阻对COB(Chip On Board)总热阻的占比极大,而焊接互联层的空洞率对DOB(Device On Board)的热阻影响较大;③针对贴片时UV LED器件和基板间的焊接层空洞率过大问题,通过大量实验获得了最优工艺参数,贴片量产时焊接层空洞率可100％控制在5％以下,UV LED封装热阻低于0.5 ℃/W.
关键词：紫外发光二极管固化光源可靠性全无机封装空洞率
分类号：TS802.9(印刷工业)
论文发表日期：2023-08-25
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：7( 28-34 )
英文信息