基因芯片分析NTD小鼠细胞周期和凋亡相关基因表达的变化
李新军1
韩杨云2
徐宏1
杨忠3
曾义4
孙中书1
李红丽3
龙晓东1
游潮5
1.四川省德阳市人民医院神经外科,四川德阳,6180002.四川省德阳市人民医院神经外科,四川德阳618000;四川大学华西医院神经外科,四川成都6100413.第三军医大学神经生物教研室,重庆,4000384.四川省人民医院神经外科,四川成都,6100415.四川大学华西医院神经外科,四川成都,610041
摘要：目的 筛选神经管缺陷(NTD)发生过程中与正常组织差异表达的细胞周期和细胞凋亡相关基因并作初步功能分析.方法 用含有1 100余个已知基因的中密度芯片比较了胚胎9.5d、10.5 d正常与同期NTD小鼠神经管组织的基因表达差异.结果 通过比较正常E9.5d与E10.5 d获得138个差异表达基因,E9.5 d-NTD获得20个差异,El0.5 d-NTD获得29个差异表达基因,根据基因功能分类包括细胞周期与凋亡相关基因,信号转导基因,转录与翻译调控,能量与代谢基因,热休克基因,基质与骨架蛋白等多种种类.而细胞周期和凋亡相关基因分别占差异基因的25.80％(32/124),45.00％(9/20)及28.57％(8/28).结论 实验证实多类基因参与了NTD的发生、发展过程,细胞周期和凋亡相关基因在神经管异常发育中具有重要作用,对该相关基因群的进一步研究有助于阐释NTD的发病机制.
关键词：神经管缺陷神经胚形成基因芯片维甲酸细胞周期
分类号：R329.1(人体形态学)
资助基金：四川省卫生厅科技攻关基金资助项目(080128)
论文发表日期：2013-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 117-121 )
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