水分子对有机场效应晶体管阈值电压稳定性的影响
戚辉
郭鹏
张雪华
丁星星
张莹
李梦
1.中原工学院,郑州,4500072.中原工学院,郑州,4500073.中原工学院,郑州,4500074.中原工学院,郑州,4500075.中原工学院,郑州,4500076.中原工学院,郑州,450007
摘要：以重掺杂Si片为衬底,SiO2为栅绝缘层,并五苯为有源层,制备了有机场效应晶体管(OFETs),研究了空气中水汽对场效应性能的影响.实验表明:当器件较长时间放置在空气中时,吸附在并五苯和SiO2接触面之间的水分子导致阈值电压漂移,器件的稳定性降低;经过热处理的器件的阈值电压漂移现象消失.提出了解释阈值电压漂移现象的模型,该模型可解释水分子在这个过程中所起的作用.
关键词：有机场效应晶体管并五苯阈值电压漂移热处理
分类号：TN386(半导体技术)
资助基金：国家自然科学基金(11547221)
论文发表日期：2016-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 33-36 )
英文信息