大功率白光LED加速寿命试验研究
赵阿玲
贺卫利
陈建新
1.北京工业大学,电子信息与控制学院,北京,1000222.北京工业大学,电子信息与控制学院,北京,1000223.北京工业大学,电子信息与控制学院,北京,100022
摘要：对新型大功率GaN基蓝光芯片激发荧光粉发射白光的LED进行电流应力加速寿命测试和可靠性研究,考察白光LED主要性能参数随老化时间的变化,结果表明:经过5000多小时的老化,光通量平均降至初始值的77.5%;发光效率变化趋势与光通量变化基本一致;峰值波长没有明显的变化趋势,而相关色温随老化时间增加逐渐升高;正向导通电压也随老化时间增加而升高.实验表明样品参数型失效主要包括发光效率的降低和荧光粉转换效率的降低.
关键词：白光LED寿命试验失效分析
分类号：TN384(半导体技术)
资助基金：北京市教委项目(102000650)
论文发表日期：2010-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 65-68 )
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