多次X线暴露所致PC12细胞的氧化性损伤
喻晶1
刘宏2
葛宁3
张继青3
刁波4
陈福慈3
罗远菊1
吕玲1
1.430070,广州军区武汉总医院药剂科湖北中医药大学药学院;广州军区武汉总医院肿瘤放疗科2.广州军区武汉总医院药剂科,4300703.广州军区武汉总医院肿瘤放疗科4.广州军区武汉总医院医学实验科
摘要：目的 探讨多次X 线暴露所致PC12 细胞的氧化性损伤.材料与方法 采用X 线以50、150、450、1 350 mGy 剂量分别照射PC12 细胞,检测辐照后细胞活力、超氧化物歧化酶(SOD)活性和丙二醛(MDA)含量.结果 与正常组比较,50、150、450 mGy 单次照射后细胞活力均＞100%;1 350 mGy 照射后细胞活力＜100%.各剂量组细胞活力随照射次数的增多而逐渐减小,且与照射累积剂量呈较好的相关性.150、450 mGy 剂量组细胞中SOD活性随照射次数的增多而减小;MDA 含量随照射次数的增多而增多.结论 多次中低剂量X 线暴露对PC12 细胞有氧化性损伤作用,损伤程度与辐照剂量存在一定的量效关系.
关键词：X线PC12细胞氧化性损伤
论文发表日期：2012-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：4( 103-106 )
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