基于ATE的高速集成电路动态参数测试方法
聂之君
赵帅
航天科工防御技术研究试验中心 北京 100854
摘要：论文介绍了基于数模混合ATE时间测量单元(TMU)的测试方法,经试验发现,常规测试方法会导致TMU存在测量误差,为解决这一问题,提出了数模混合ATE程控示波器的方法.以高速光耦的下降时间为研究对象,试验结果表明,优化前测试值存在较大误差,优化后下降时间测试值与高速光耦详细规范中典型值基本一致,且多次测量测试值稳定,目前已应用于多项高速集成电路筛选测试中.
关键词：高速集成电路数模混合测试系统时间测量单元(TMU)程控筛选
分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)
论文发表日期：2025-12-20
在线出版日期：2026-03-23（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 170-174 )
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