硅酸镓镧高温压电传感器的零漂及抑制研究
程文华
张磊
谭秋林
中北大学微纳器件与系统教育部重点实验室 太原 030051
摘要：该研究分析了硅酸镓镧压电传感器在高温测试时所表现出的直流漂移现象的电学机理.讨论了传感器、运放失调、无源元件之间的相互作用和测试环境中的电气连接.通过建立测试回路简化模型,推导了芯片器件和环境因素对输出直流偏置的影响.根据最坏情况下的综合影响表达式,总结了零漂抑制方法,并对用于配合高温测试的电荷放大器进行了优化设计.经过优化后800℃时的测试漂移基线可以控制在运放供电轨的50％左右,与未补偿的情况相比,贡献了>89.5％的抑制作用.
关键词：高温硅酸镓镧漂移补偿电荷放大器
分类号：TP212(自动化技术及设备)
论文发表日期：2025-12-20
在线出版日期：2026-03-23（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 180-183,193 )
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