DAC动态性能测试研究
张亭亭
韦纯进
廖勇
航天科工防御技术研究试验中心 北京 100854
摘要：论文针对一款国产12位4通道DAC芯片,设计了基于FPGA的评估测试系统.主要包括FPGA实现的数字信号发生器,台式分立仪表以及被测芯片测试评估板.主要测试评估了ATE测试难以完成的参数,如尖峰脉冲干扰,小信号幅频响应、宽带噪声、串扰等.试验表明,该测试系统性能稳定可靠,具有较强的适应性,完全满足工程应用需要.
关键词：DAC测试系统FPGA性能评估
分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)
论文发表日期：2025-12-20
在线出版日期：2026-03-09（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：6( 3386-3391 )
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