高光谱成像技术下水果内外品质无损检测研究进展
张政
门泽成
任兴达
1.中国矿业大学 北京 地球科学与测绘工程学院 北京 1000832.中国矿业大学 北京 地球科学与测绘工程学院 北京 1000833.中国矿业大学 北京 地球科学与测绘工程学院 北京 100083
摘要:水果的品质与安全是消费者最关心的问题。对水果内外品质的检测一直是食品安全检测的重点对象,传统的检测方法是一种既费时又费力,同时还有破坏性的检测方法。近十几年的高光谱技术的发展使得高光谱成像技术已经被广泛应用于水果品质的无损检测中。本文总结了近十几年来国内外在高光谱成像技术下水果内外品质无损检测的研究,对比分析了不同研究方法及相应的结果分析,为搭建高光谱检测平台提供一定的理论基础。
关键词:高光谱影像水果内外品质无损检测
分类号:O434.13(光学)
论文发表日期:2016-01-01
在线出版日期:2026-05-22(本平台首次上网日期,不代表文献的发表时间)
页数:2( 7-8 )
科技经济导刊

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ISSN:2096-1995
年,卷(期):2016,(17)
所属栏目:科技经济前沿