低频力学弛豫谱仪的原理及其改进
沈中城
苏州职业大学,江苏,苏州,215011
摘要：力学弛豫引起内耗,内耗产生的内在因素是材料的结构特点和结构缺陷.通常的内耗仪,应为低频力学弛豫谱仪.文章对新研制成功的LMR--1型低频力学弛豫谱仪的原理、结构以及计算机控制软件作了概括介绍.
关键词：低频力学弛豫谱工控机DMA
分类号：O39(应用力学)
资助基金：江苏省苏州市科技基金(SG0230)
论文发表日期：2004-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：3( 61-63 )
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