内耗技术在金属晶体原子缺陷方面的应用研究
周正存
杨洪
顾苏怡
严勇健
杜洁
1.苏州市职业大学,机电工程系,江苏,苏州,2151042.苏州市职业大学,机电工程系,江苏,苏州,2151043.苏州市职业大学,机电工程系,江苏,苏州,2151044.苏州市职业大学,机电工程系,江苏,苏州,2151045.苏州市职业大学,机电工程系,江苏,苏州,215104
摘要：通过内耗技术在金属晶体原子缺陷方面的应用研究,阐述了因晶体中原子缺陷的存在而导致温度谱上产生内耗峰.Snoek峰和Zener峰是两个典型的由原子缺陷引起的弛豫峰,晶体中原子缺陷含量和结构的不同会引起内耗峰的特征不同,从而可利用内耗峰的特征和参数来探测原子缺陷的结构甚至含量.
关键词：内耗原子缺陷Snoek峰Zener峰
分类号：G633.7(中等教育)
资助基金：江苏省"六大人才高峰"高层次人才项目(06-E-011)
论文发表日期：2010-01-01
在线出版日期：2025-08-15（本平台首次上网日期，不代表文献的发表时间）
页数：5( 1-5 )
英文信息